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Infrared characterization of a-Si:H/a-Si1-xCx:H interfaces
Bertomeu i Balagueró, Joan; Puigdollers i González, Joaquim; Asensi López, José Miguel; Andreu i Batallé, Jordi
Universitat de Barcelona
Espectroscòpia infraroja
Pel·lícules fines
Hidrogen
Semiconductors amorfs
Porositat
Infrared spectroscopy
Thin films
Hydrogen
Amorphous semiconductors
Porosity
(c) Elsevier B.V., 1997
Artículo
info:eu-repo/semantics/acceptedVersion
Elsevier B.V.
         

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