To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/32162

Atomic force microscopy: probing the nanoworld
Oncins Marco, Gerard; Díaz Marcos, Jordi
Universitat de Barcelona
2013-11-07
Microscòpia de força atòmica
Nanotecnologia
Anàlisi instrumental
Atomic force microscopy
Nanotechnology
Instrumental analysis
(c) Universitat de Barcelona, 2012
info:eu-repo/semantics/bookPart
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Díaz Marcos, Jordi; Pinna, Francesca; Oncins Marco, Gerard
El Hachemi, Zoubir; Escudero Rodríguez, Carlos; Acosta-Reyes, Francisco; Casas, M. Teresa; Altoe, Virginia; Aloni, Shaul; Oncins Marco, Gerard; Sorrenti, Alessandro; Crusats i Aliguer, Joaquim; Campos, J. Lourdes; Ribó i Trujillo, Josep M.
Vinardell Martínez-Hidalgo, Ma. Pilar; Sordé, A.; Díaz Marcos, Jordi; Baccarin, T.; Mitjans Arnal, Montserrat
Vinardell Martínez-Hidalgo, Ma. Pilar; Sordé, A.; Díaz Marcos, Jordi; Baccarin, T.; Mitjans Arnal, Montserrat
 

Coordination

 

Supporters