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Investigation of defect formation and electronic transport in microcrystalline silicon deposited by hot-wire CVD
Stöger, M.; Breymesser, A.; Schlosser, V.; Ramadori, M.; Plunger, V.; Peiró, D.; Voz Sánchez, Cristóbal; Bertomeu i Balagueró, Joan; Nelhiebel, M.; Schattschneider, P.; Andreu i Batallé, Jordi
Universitat de Barcelona
Silici
Deposició química en fase vapor
Microscòpia electrònica de transmissió
Potenciometria
Nanotecnologia
Silicon
Chemical vapor deposition
Transmission electron microscopy
Potentiometry
Nanotechnology
(c) Elsevier B.V., 1999
Artículo
info:eu-repo/semantics/acceptedVersion
Elsevier B.V.
         

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