To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/20153

A Highly time sensitive XOR gate for probe attempt detectors
Manich Bou, Salvador; Strasser, Martin
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Metal oxide semiconductors
CMOS integrated circuits logic gates phase detection smart cards Delays Detectors Logic gates Probes Standards Transistors
Metall-òxid-semiconductors
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Neagu, Madalin; Miclea, Liviu; Manich Bou, Salvador
Manich Bou, Salvador; Wamser, Markus S.; Sigl, Georg
Weiner, Michael; Manich Bou, Salvador; Sigl, Georg
 

Coordination

 

Supporters