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Mitigation strategies of the variability in 3T1D cell memories scaled beyond 22nm
Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors
Dynamic random-access memory
DRAM
variability
DRAM
temperature
Memòries electròniques d'accés aleatori
Artículo - Borrador
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

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