To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/20054
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Suñé, Víctor |
dc.contributor.author | Rodríguez Montañés, Rosa |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.contributor.author | Munteanu, D-P |
dc.date | 2003 |
dc.identifier.citation | Suñe, V. [et al.]. A combinatorial method for the evaluation of yield of fault-tolerant systems-on-chip. A: IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks. "Proc. IEEE Int. Conf. on Dependable Systems and Networks". 2003, p. 563-572. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/20054 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica |
dc.subject | Combinatorial analysis |
dc.subject | Anàlisi combinatòria |
dc.title | A combinatorial method for the evaluation of yield of fault-tolerant systems-on-chip |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |