Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/20006
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
dc.contributor.author | Carrasco, Juan A. |
dc.date | 2006 |
dc.identifier.citation | Carrasco, J. Adapted importance sampling schemes for the simulation of dependability models of Fault-tolerant systems with deferred repair. A: IEEE Annual Simulation Symp.. "Proc. 39th IEEE Annual Simulation Symp.". 2006, p. 107-116. |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/20006 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Estadística matemàtica |
dc.subject | Markov processes |
dc.subject | Markov, Processos de |
dc.title | Adapted importance sampling schemes for the simulation of dependability models of Fault-tolerant systems with deferred repair |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject |
dc.description.abstract |