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On the use of static temperature measurements as process variation observable
Gómez, Didac; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria agroalimentària::Ciències de la terra i de la vida::Climatologia i meteorologia
Temperature measurements
CMOS process variation
Design for manufacturability
RF built-in test
RF thermal testing
Thermal monitoring
Termometria
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
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