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Fault-tolerance capacity of the multilevel active clamped topology
Nicolás Apruzzese, Joan; Busquets Monge, Sergio; Bordonau Farrerons, José; Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona; Universitat Politècnica de Catalunya. GREP - Grup de Recerca en Electrònica de Potència
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Electrical engineering.
-CONVERTER
-Enginyeria elèctrica
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Artículo - Versión publicada
Objeto de conferencia
IEEE
         

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Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro; Busquets Monge, Sergio; Nicolás Apruzzese, Joan; Bordonau Farrerons, José
Nicolás Apruzzese, Joan; Busquets Monge, Sergio; Bordonau Farrerons, José; Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro; Filbà Martínez, Àlber
Calle Prado, Alejandro; Alepuz Menéndez, Salvador; Bordonau Farrerons, José; Nicolás Apruzzese, Joan; Cortés, Patricio; Rodríguez Pérez, José