Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/19159

Fault-tolerance capacity of the multilevel active clamped topology
Nicolás Apruzzese, Joan; Busquets Monge, Sergio; Bordonau Farrerons, José; Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB); Universitat Politècnica de Catalunya. GREP - Grup de Recerca en Electrònica de Potència
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electrical engineering.
CONVERTER
Enginyeria elèctrica
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
IEEE
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Nicolás Apruzzese, Joan; Busquets Monge, Sergio; Bordonau Farrerons, José; Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro
Nicolás Apruzzese, Joan; Busquets Monge, Sergio; Bordonau Farrerons, José; Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro; Filbà Martínez, Àlber
Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro; Busquets Monge, Sergio; Nicolás Apruzzese, Joan; Bordonau Farrerons, José
Nicolás Apruzzese, Joan; Busquets Monge, Sergio; Bordonau Farrerons, José; Alepuz Menéndez, Salvador; Calle Prado, Alejandro
Calle Prado, Alejandro; Alepuz Menéndez, Salvador; Bordonau Farrerons, José; Nicolás Apruzzese, Joan; Cortés, Patricio; Rodríguez Pérez, José