To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/34659

New features of the layer-by-layer deposition of microcrystalline silicon films revealed by spectroscopic ellipsometry and high resolution transmission electron microscopy
Roca i Cabarrocas, P. (Pere); Hamma, S.; Hadjadj, A.; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi
Universitat de Barcelona
Silici
Pel·lícules fines
Propietats òptiques
Microscòpia electrònica de transmissió
Silicon
Thin films
Optical properties
Transmission electron microscopy
(c) American Institute of Physics , 1996
Article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Muñoz Ramos, David; Voz Sánchez, Cristóbal; Martin, I.; Orpella, A.; Puigdollers i González, Joaquim; Alcubilla González, Ramón; Villar, Fernando; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi; Damon-Lacoste, J.; Roca i Cabarrocas, P. (Pere)
Muñoz Ramos, David; Voz Sánchez, Cristóbal; Martin, I.; Orpella, A; Alcubilla González, Ramón; Villar, F.; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi; Roca i Cabarrocas, P. (Pere)
Kail, F.; Farjas Silva, Jordi; Roura Grabulosa, Pere; Secouard, C.; Nos Aguilà, Oriol; Bertomeu i Balagueró, Joan; Alzina Sureda, Francesc; Roca i Cabarrocas, P. (Pere)
Kail, F.; Farjas Silva, Jordi; Roura Grabulosa, Pere; Secouard, C.; Nos Aguilà, Oriol; Bertomeu i Balagueró, Joan; Roca i Cabarrocas, P. (Pere)
Fontcuberta i Morral, A.; Bertomeu i Balagueró, Joan; Roca i Cabarrocas, P. (Pere)
 

Coordination

 

Supporters