Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/34659

New features of the layer-by-layer deposition of microcrystalline silicon films revealed by spectroscopic ellipsometry and high resolution transmission electron microscopy
Roca i Cabarrocas, P. (Pere); Hamma, S.; Hadjadj, A.; Bertomeu i Balagueró, Joan; Andreu i Batallé, Jordi
Universitat de Barcelona
Silici
Pel·lícules fines
Propietats òptiques
Microscòpia electrònica de transmissió
Silicon
Thin films
Optical properties
Transmission electron microscopy
(c) American Institute of Physics , 1996
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

Mostrar el registro completo del ítem