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Limit to the erbium ions emission in silicon-rich oxide films by erbium ion clustering
Prtljaga, Nikola; Navarro Urrios, Daniel; Tengattini, Andrea; Anopchenko, Aleksei; Ramirez Ramírez, Joan Manel; Rebled, J. M. (José Manuel); Estradé Albiol, Sònia; Colonna, Jean-Philippe; Fedeli, Jean-Marc; Garrido Fernández, Blas; Pavesi, Lorenzo
Universitat de Barcelona
Ciència dels materials
Òptica
Materials science
Optics
(c) The Optical Society (OSA), 2012
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
The Optical Society
         

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Ramírez Ramírez, Joan Manel; Berencén Ramírez, Yonder Antonio; Ferrarese Lupi, Federico; Navarro Urrios, Daniel; Anopchenko, Aleksei; Tengattini, Andrea; Prtljaga, Nikola; Pavesi, Lorenzo; Rivallin, P.; Fedeli, Jean-Marc; Garrido Fernández, Blas
Anopchenko, Aleksei; Tengattini, Andrea; Marconi, A.; Prtljaga, Nikola; Ramírez Ramírez, Joan Manel; Jambois, Olivier; Berencén Ramírez, Yonder Antonio; Navarro Urrios, Daniel; Garrido Fernández, Blas; Milesi, F.; Colonna, J. P.; Fedeli, Jean-Marc; Pavesi, Lorenzo
Ramírez Ramírez, Joan Manel; Jambois, Olivier; Berencén Ramírez, Yonder Antonio; Navarro Urrios, Daniel; Anopchenko, Aleksei; Marconi, A.; Prtljaga, Nikola; Daldosso, Nicola; Pavesi, Lorenzo; Colonna, J. P.; Fedeli, Jean-Marc; Garrido Fernández, Blas
Navarro Urrios, Daniel; Ferrarese Lupi, Federico; Prtljaga, Nikola; Pitanti, Alessandro; Jambois, Olivier; Ramírez Ramírez, Joan Manel; Berencén Ramírez, Yonder Antonio; Daldosso, Nicola; Garrido Fernández, Blas; Pavesi, Lorenzo
 

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