Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/17037

Characterization and modelling of EMI susceptibility in integrated circuits at high frequency
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Amplifiers (Electronics)
Integrated circuits
Amplificadors (Electrònica)
Circuits integrats
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Sieiro, Javier; López-Villegas, José María
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Balcells Sendra, Josep