Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/17037

Characterization and modelling of EMI susceptibility in integrated circuits at high frequency
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
In this paper an alternative method for characterizing and modelling the EMI susceptibility in integrated circuits at frequencies above 1 GHz is presented. The PCB layout design is focused on the optimization of the impedance mismatch losses on the radio frequency interference injection path. The PCB has been tested with several commercial operational amplifiers and the methodology is validated through both electrical transmission line simulations and electromagnetic cosimulations.
Peer Reviewed
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència
Amplifiers (Electronics)
Integrated circuits
Amplificadors (Electrònica)
Circuits integrats
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Sieiro, Javier; López-Villegas, José María
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Balcells Sendra, Josep