Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/16725

Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy
Santos Hernández, Sergio; Gadelrab,, K.; Barcons Xixons, Víctor; Stefancich, M.; Chiesa, Matteo
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
A formalism to extract and quantify unknown quantities such as sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering the unknowns only requires the cantilever to be accurately calibrated and the dissipative processes occurring during sample deformation to be well modeled. The theory is validated by comparison with numerical simulations and shown to be able to provide, in principle, values of sample deformation with picometer resolution.
Àrees temàtiques de la UPC::Física
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Atomic force microscopy
Dissipative process
Energy hysteresis
Picometer resolution
Sample deformation
Unknown quantity
Microscòpia de força atòmica
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Santos Hernández, Sergio; Phillips, M.A.; Verdaguer, Albert; Font Teixidó, Josep; Chiesa, Matteo; Gadelrab,, K.; Stefancich, M.; Armstrong, P.; Li, G.; Souier, T.; Thomson, Neil H.; Barcons Xixons, Víctor
Font Teixidó, Josep; Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Thomson, Neil H.; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Verdaguer, Albert; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Gadelrab, Karim Raafat; Font Mateu, Josep; Chiesa, Matteo
Santos Hernández, Sergio; Barcons Xixons, Víctor; Christenson, Hugo K.; Billingsley, Daniel J.; Bonass, William A.; Font Teixidó, Josep; Thomson, Neil H.