Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/32236

Properties of amorphous silicon thin films grown in square wave modulated silane rf discharges.
Andújar Bella, José Luis; Bertran Serra, Enric; Canillas i Biosca, Adolf; Campmany i Guillot, Josep, 1966-; Serra-Miralles, J.; Roch i Cunill, Carles; Lloret, A.
Universitat de Barcelona
Semiconductors amorfs
Pel·lícules fines
Silici
Amorphous semiconductors
Thin films
Silicon
(c) American Institute of Physics , 1992
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Andújar Bella, José Luis; Bertran Serra, Enric; Canillas i Biosca, Adolf; Campmany i Guillot, Josep, 1966-; Morenza Gil, José Luis
Lloret, A.; Bertran Serra, Enric; Andújar Bella, José Luis; Canillas i Biosca, Adolf; Morenza Gil, José Luis
Campmany i Guillot, Josep, 1966-; Costa i Balanzat, Josep; Canillas i Biosca, Adolf; Andújar Bella, José Luis; Bertrán Serra, Enric
Canillas i Biosca, Adolf; Bertran Serra, Enric; Andújar Bella, José Luis; Drevillon, B.