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Fine speckle contrast in InGaAs/InP systems: Influence of layer thickness, missmatch, and growing temperature
Peiró Martínez, Francisca; Cornet i Calveras, Albert; Herms Berenguer, Atilà; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Clark, S. A.; Williams, R. H.
Universitat de Barcelona
Pel·lícules fines
Feixos moleculars
Nanotecnologia
Thin films
Molecular beams
Nanotechnology
(c) American Institute of Physics , 1993
Artículo
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
American Institute of Physics
         

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Clark, S. A.; Roura Grabulosa, Pere; Bosch Estrada, José; Pérez Rodríguez, Alejandro; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Westwood, David I.; Williams, R. H.
Morante i Lleonart, Joan Ramon; Samitier i Martí, Josep; Cornet i Calveras, Albert; Herms Berenguer, Atilà; Cartujo Estébanez, Pedro
Prieto, J. A.; Armelles Reig, G.; Utzmeier, Thomas; Briones Fernández-Pola, Fernando; Ferrer, J. C.; Peiró Martínez, Francisca; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon
 

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