Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/32145

Precession electron diffraction in the transmission electron Microscope: electron crystallography and orientational mapping
Portillo i Serra, Joaquim
Universitat de Barcelona
28-09-2012
Microscòpia electrònica de transmissió
Anàlisi instrumental
Difracció d'electrons
Transmission electron microscopy
Instrumental analysis
Electrons diffraction
(c) Universitat de Barcelona, 2012
info:eu-repo/semantics/bookPart
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Viladot, Désirée; Portillo i Serra, Joaquim; Gemí, Mauro; Nicolopoulos, Stavros; Llorca i Isern, Núria