Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/16309

Testing RF circuits with true non-intrusive built-in sensors
Abdallah, Louay; Stratigopoulos, Haralampos-G.; Mir, Salvador; Altet Sanahujes, Josep
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Integrated circuits
Circuits de ràdio
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
IEEE
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Altet Sanahujes, Josep; Aldrete Vidrio, Héctor; Reverter Cubarsí, Ferran; Gómez Salinas, Dídac; Gonzalez Jimenez, J. L.; Onabajo, Marvin; Silva Martinez, Jose; Martineau, B.; Perpiñà Gilabet, Xavier; Abdallah, Louay; Stratigopoulos, Haralampos-G.; Aragonès Cervera, Xavier; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Dilhaire, Stefan; Mir, Salvador; Mateo Peña, Diego
Rubio Sola, Jose Antonio; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego
Onabajo, M.; Gómez Salinas, Dídac; Aldrete Vidrio, Eduardo; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
González Jiménez, José Luis; Martineau, Baudouin; Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep
Aldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José