Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/16298

Variability and reliability analysis of CNFET in the presence of carbon nanotube density fluctuation
García Almudéver, Carmen; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Optoelectrònica
Nanotubes
Nanotubs
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; Amatlle, E.; Gómez González, Sergio; Aymerich Capdevila, Nivard; García Almudéver, Carmen; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
García Almudéver, Carmen; Rubio Sola, Jose Antonio
Rubio Sola, Jose Antonio; García Almudéver, Carmen; Martin, Javier; Crespo, A.; Rodriguez, Rosa; Nafría Maqueda, Montserrat
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio