To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/16283

TRAMS Project: variability and reliability of SRAM memories in sub-22nm bulk-CMOS technologies
Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio; ASenov, Asen; Brown, Andrew; Miranda, Miguel; Zuber, Paul; González Colás, Antonio María; Vera Rivera, Francisco Javier
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Nanotechnology
Electrònica
Circuits integrats
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
Elsevier
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Pons Solé, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio; Abella Ferrer, Jaume; Vera Rivera, Francisco Javier; González Colás, Antonio María
Pons Solé, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio; Abella Ferrer, Jaume; Vera Rivera, Francisco Javier; González Colás, Antonio María
Pons Solé, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio; Abella Ferrer, Jaume; Vera Rivera, Francisco Javier; González Colás, Antonio María
González Colás, Antonio María; Pons Solé, Marc; Barajas Ojeda, Enrique; Mateo Peña, Diego; López González, Juan Miguel; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio; Abella Ferrer, Jaume; Vera Rivera, Francisco Javier
Pons, Marc; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio; Abella Ferrer, Jaume; Vera Rivera, Francisco Javier; González Colás, Antonio María
 

Coordination

 

Supporters