dc.contributor |
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
dc.contributor |
Busquets Monge, Sergio |
dc.contributor |
Bordonau Farrerons, José |
dc.contributor.author |
Andreu Ramis, Xavier |
dc.date |
2010-06 |
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/2099.1/10080 |
dc.language.iso |
cat |
dc.publisher |
Universitat Politècnica de Catalunya |
dc.rights |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject |
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Electrònica de potència::Circuits de potència |
dc.subject |
Semiconductors |
dc.subject |
Power electronics |
dc.subject |
Electric switchgear |
dc.subject |
Semiconductors |
dc.subject |
Electrònica de potència |
dc.subject |
Electricitat -- Dispositius de distribució |
dc.title |
Disseny i implementació d’un circuit de test de dispositius semiconductors de potència |
dc.type |
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |
dc.description.abstract |
El present projecte final de carrera s'emmarca dins de l’àmbit de dispositius semiconductors
de potència emprats com a interruptors. El camp d’aplicació dels interruptors
semiconductors de potència és ampli, sent-ne un exemple el condicionament d’energia
elèctrica.
L’objectiu principal del projecte és l'obtenció d’un circuit muntat sobre una placa de circuit
imprès per provar interruptors semiconductors controlats per tensió. El circuit permet obtenir
les característiques de conducció i commutació dels dispositius que s’analitzen.
El projecte es pot desglossar en dues fases, una fase de disseny del circuit i una fase
d’execució o muntatge. Durant la fase de disseny s’ha utilitzat el programari Orcad 10.5 com
a suport informàtic.
Un objectiu secundari, que deriva de la construcció d’un circuit, és la verificació que el seu
funcionament és correcte. Amb aquesta finalitat s’han determinat les característiques de
commutació d’un parell d'interruptors (per a unes condicions de contorn concretes), atenent
a les dades aportades pel fabricant del dispositiu. S'han dissenyat experiments específics
per a les parts del circuit que no poden ser degudament analitzades amb l'obtenció de les
característiques de commutació d'un dispositiu. |