Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/11966

Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis
Vatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electronic engineering
Enginyeria electrònica -- Congressos
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Di Carlo, Stefano; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan