To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/10718

Thermal coupling in ICs: aplications to the test and characterization of analogue and RF circuits
Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Aldrete Vidrio, Héctor
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grupo de Circuitos y Sistemas Integrados de Altas Prestaciones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Low frequency
Electric circuits
Radio frequency
Electronic engineering
Electrònica
Circuits
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Aldrete Vidrio, Héctor; Onabajo, M.; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
Altet Sanahujes, Josep; Aldrete Vidrio, Héctor; Reverter Cubarsí, Ferran; Gómez Salinas, Dídac; Gonzalez Jimenez, J. L.; Onabajo, Marvin; Silva Martinez, Jose; Martineau, B.; Perpiñà Gilabet, Xavier; Abdallah, Louay; Stratigopoulos, Haralampos-G.; Aragonès Cervera, Xavier; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Dilhaire, Stefan; Mir, Salvador; Mateo Peña, Diego
Rubio Sola, Jose Antonio; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego
Onabajo, M.; Gómez Salinas, Dídac; Aldrete Vidrio, Eduardo; Altet Sanahujes, Josep; Mateo Peña, Diego; Silva-Martínez, José
González Jiménez, José Luis; Martineau, Baudouin; Mateo Peña, Diego; Altet Sanahujes, Josep
 

Coordination

 

Supporters