To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/10951

Location of hot spots in integrated circuits by monitoring the substrate thermal-phase lag with the mirage effect
Perpiñà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Mestres, Narcís
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grupo de Circuitos y Sistemas Integrados de Altas Prestaciones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
System-on-chip design and technologies
Electronic engineering
Integrated circuits
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
Transistors
Electrònica
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Perpiñà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel
Altet Sanahujes, Josep; González Jiménez, José Luis; Gómez Salinas, Dídac; Perpiñà, Xavier; Grauby, Stephane; Dufis, Cédric Yvan; Vellvehi, Miquel; Mateo Peña, Diego; Dilhaire, Stefan; Jordà, Xavier
Jordà, Xavier; Perpiñà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Madrid, Francesc; Altet Sanahujes, Josep
Perpiñà, Xavier; Altet Sanahujes, Josep; Jordà, Xavier; Vellvehi, Miquel
 

Coordination

 

Supporters