To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/7805

Built-In Sensor for Signal Integrity Faults in Digital Interconnect Signals
Champac Vilela, Víctor Hugo; Avendaño, Victor; Figueras Pàmies, Joan
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Circuits electrònics
Digital integrated circuits
Integrated circuits--Design
Integrated circuits--Testing
Circuits integrats digitals
Circuits integrats digitals -- Disseny
Circuits integrats digitals -- Proves
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Di Carlo, Stefano; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Arumi Delgado, Daniel; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
del Cerro, Jordi; Cusí Cusí, Carles; Figueras Pàmies, Joan
Gómez Pau, Álvaro; Sanahuja Moliner, Ricard; Balado Suárez, Luz María; Figueras Pàmies, Joan
 

Coordination

 

Supporters