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Título:	Toward understanding the wide distribution of time scales in negative bias temperature instability
Autor/a:	Kaczer, Ben; Grasser, Tibor; Fernández García, Raúl; Groeseneken, Guido
Otros autores:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group
Materia(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Metal oxide semiconductor field-effect transistors -Field-effect transistors -Transistors d'efecte de camp
Derechos:
Tipo de documento:	Artículo - Borrador Capítulo o parte de libro
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