Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/6826

Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Microelectronics
Microelectrònica
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Fernández García, Raúl; Berbel Artal, Néstor; Gil Galí, Ignacio; Morata Cariñena, Marta
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Li, Binhong; BenDhia, S.; Boyer, A.
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Li, B.; Boyer, A.; BenDhia, S.
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
 

Coordinación

 

Patrocinio