To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/6826

Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa; Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Microelectronics
Microelectrònica
info:eu-repo/semantics/submittedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio; Li, B.; Boyer, A.; BenDhia, S.
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Pérez Robles, Daniel; Gil Galí, Ignacio; Gago Barrio, Javier; Fernández García, Raúl; Balcells Sendra, Josep; González Díez, David; Berbel Artal, Néstor; Mon González, Juan
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Berbel Artal, Néstor; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
 

Coordination

 

Supporters