To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/992

Accuracy considerations in microstrip surface impedance measurements
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C.; Collado Gómez, Juan Carlos; Canet Grau, Eduard; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, Josep
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
-Resonators
-Superconductivity
-Impedance (Electricity)
-Microwave measurements
-electric impedance measurement
-measurement errors
-microstrip resonators
-microwave measurement
-penetration depth (superconductivity)
-superconducting cavity resonators
-superconducting device testing
-Resonadors dielèctrics
-Superconductivitat
-Impedància (Electricitat)
-Microones -- Mesurament
Article
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Flores Jiménez, Alejandro; Collado Gómez, Juan Carlos; Sans, C.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, Josep
Sans, C.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sancho, D.; Pous Andrés, Rafael; Fontcuberta, Josep; Liang, Ji-fhu; Liang, Guo-chun
Rozan, Edouard; Collado Gómez, Juan Carlos; García, A.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Pous Andrés, Rafael; Fàbrega i Soler, Lluís; Rius Casals, Juan Manuel; Rubí, R.; Fontcuberta, Josep; Harackiewicz, F.
Rozan, Edouard; Collado Gómez, Juan Carlos; Garcia, Alfredo; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Pous Andrés, Rafael; Fàbrega Sanchez, Lourdes; Rius Casals, Juan Manuel; Rubí, R; Fontcuberta, J; Harackiewicz, F
O'Callaghan Castellà, Juan Manuel; Sans, C; Pous Andrés, Rafael; Collado Gómez, Juan Carlos; Canet, E
 

Coordination

 

Supporters