New Theoretical Analysis of the LRRM Calibration Technique for Vector Network Analyzers

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RECERCAT Principal > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > Visualizar documento

Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/1082

dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
dc.contributor.author	Purroy Martín, Francesc
dc.contributor.author	Pradell i Cara, Lluís
dc.date	1997
dc.identifier.citation	Purroy, F; Pradell, L. New theoretical analysis of the LRRM calibration technique for vector network analyzers. IEEE Transactions on instrumentation and measurement, 2001, vol.50, núm.5, p.1307-1314
dc.identifier.citation	0018-9456
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2117/1082
dc.language.iso	eng
dc.publisher	IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
dc.subject	Microwave measurements
dc.subject	Impedance matching
dc.subject	Calibration
dc.subject	calibration
dc.subject	impedance matching
dc.subject	measurement errors
dc.subject	measurement standards
dc.subject	microwave reflectometry
dc.subject	network analysers
dc.subject	40 GHz
dc.subject	calibration accuracy
dc.subject	calibration algorithm
dc.subject	error model
dc.subject	four-standards
dc.subject	line-reflect-reflect-match calibration
dc.subject	on-wafer calibrations
dc.subject	on-wafer match standard
dc.subject	reference impedance
dc.subject	reference-impedance
dc.subject	reflection coefficient magnitude
dc.subject	self-calibration
dc.subject	systematic errors
dc.subject	vector network-analyzer calibration
dc.subject	Microones -- Mesurament -- Processament de dades
dc.subject	Impedància (Electricitat)
dc.title	New Theoretical Analysis of the LRRM Calibration Technique for Vector Network Analyzers
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.description.abstract	In this paper, a new theoretical analysis of the four-standards line-reflect-reflect-match (LRRM) vector network-analyzer (VNA) calibration technique is presented. As a result, it is shown that the reference-impedance (to which the LRRM calibration is referred) cannot generally be defined whenever nonideal standards are used. Based on this consideration, a new algorithm to determine the on-wafer match standard is proposed that improves the LRRM calibration accuracy. Experimental verification of the new theory and algorithm using on-wafer calibrations up to 40 GHz is given.
dc.description.abstract	Peer Reviewed

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