Measurement of on-wafer transistor noise parameters without a tuner using unrestricted noise sources

Inici | Què és? | Contacte

English | Castellano

Consultar RECERCAT

Per comunitats i
col·leccions Per data Per autors Per títols Per matèries

Consultar col·lecció

Per data Per autors Per títols Per matèries

Estadístiques

Del document Tot RECERCAT

El meu RECERCAT

Entrar Alertes per correu-e

Directori d’altres repositoris

Pàgina inicial del RECERCAT > Universitat Politècnica de Catalunya > Documents de recerca > Visualitza document

Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/1181

dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions
dc.contributor	Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
dc.contributor.author	Lázaro Guillén, Antoni
dc.contributor.author	Maya Sánchez, Mª del Carmen
dc.contributor.author	Pradell i Cara, Lluís
dc.date	2002
dc.identifier.citation	Lázaro, A.; Maya, M. C.; Pradell, L. Measurement of on-wafer transistor noise parameters without a tuner using unrestricted noise sources. Microwave journal, 2002, vol. 45, núm. 3, p.20-46.
dc.identifier.citation	0192-6225
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2117/1181
dc.language.iso	eng
dc.publisher	HORIZON HOUSE PUBLICATIONS INC
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
dc.subject	Field-effect transistors
dc.subject	Microwave measurements
dc.subject	Noise Measurement
dc.subject	Calibration
dc.subject	calibration
dc.subject	integrated circuit noise
dc.subject	microwave measurement
dc.subject	receivers
dc.subject	semiconductor device noise
dc.subject	on-wafer transistor noise parameters
dc.subject	noise receiver
dc.subject	ismatched noise sources
dc.subject	source reflection coefficients
dc.subject	calibration
dc.subject	noise set-up
dc.subject	reverse-biased cold-FET
dc.subject	avalanche noise diode
dc.subject	40 GHz
dc.subject	electric noise measurement
dc.subject	Microones -- Mesurament
dc.title	Measurement of on-wafer transistor noise parameters without a tuner using unrestricted noise sources
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.description.abstract	The authors present a method for calibrating the four noise parameters of a noise receiver which does not require a tuner The method permits using general (mismatched) noise sources, which may present very different source reflection coefficients between their hot and cold states. The method is applied to the calibration of a noise set-up using on-wafer noise sources (a reverse-biased cold-FET and an avalanche noise diode). Experimental validation of the receiver calibration and its application to the determination Of on-wafer FET noise parameters to 40 GHz is presented.
dc.description.abstract	Peer Reviewed

Mostra el registre simple del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

A Method to Simultaneously Extract the Small-Signal Equivalent Circuit and Noise Parameters of Heterojunction Bipolar Transistors

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís

A Method for the Determination of a Distributed FET Noise-Model Based on Matched-Source Noise-Figure Measurements

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni

Noise model of a reverse-biased Cold-FET applied to the characterization of its ENR

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís

A method for characterizing coplanar waveguide-to-microstrip transitions, and its application to the measurement of microstrip devices with coplanar microprobes

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís; Paco, D. de

Bias-dependence of FET intrinsic noise sources, determined with a quasi-2D model

Lázaro Guillén, Antoni; Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís

Accessibilitat | Avís legal | Política de Cookies | Documents d'ús intern

Coordinació

Patrocini