Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/1181

Measurement of on-wafer transistor noise parameters without a tuner using unrestricted noise sources
Lázaro Guillén, Antoni; Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Field-effect transistors
Microwave measurements
Noise Measurement
Calibration
calibration
integrated circuit noise
microwave measurement
receivers
semiconductor device noise
on-wafer transistor noise parameters
noise receiver
ismatched noise sources
source reflection coefficients
calibration
noise set-up
reverse-biased cold-FET
avalanche noise diode
40 GHz
electric noise measurement
Microones -- Mesurament
Article
HORIZON HOUSE PUBLICATIONS INC
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Lázaro Guillén, Antoni; Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni