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Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/6216

Título: Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter
Autor/a: Fernández García, Raúl; Kaczer, Ben; Gago Barrio, Javier; Rodríguez, Rosana; Nafría Maqueda, Montserrat
Otros autores: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Terrassa Industrial Electronics Group
Abstract:
Materia(s): -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
-Electronic apparatus and appliances
-Electrònica--Aparells i instruments
Derechos:
Tipo de documento: Artículo - Versión publicada
Objeto de conferencia
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