To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/6216

Experimental Characterization of NBTI Effect on pMOSFET and CMOS Inverter
Fernández García, Raúl; Kaczer, Ben; Gago Barrio, Javier; Rodríguez, Rosana; Nafría Maqueda, Montserrat
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
Electronic apparatus and appliances
Electrònica--Aparells i instruments
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Kaczer, Ben; Grasser, Tibor; Fernández García, Raúl; Groeseneken, Guido
Mon González, Juan; Gago Barrio, Javier; González Díez, David; Balcells Sendra, Josep; Fernández García, Raúl; Bogónez Franco, Francisco; Gil Galí, Ignacio
Gil Galí, Ignacio; Fernández García, Raúl; Gago Barrio, Javier; Balcells Sendra, Josep
Mon González, Juan; Gago Barrio, Javier; González Díez, David; Balcells Sendra, Josep; Fernández García, Raúl; Gil Galí, Ignacio
Pérez Robles, Daniel; Gil Galí, Ignacio; Gago Barrio, Javier; Fernández García, Raúl; Balcells Sendra, Josep; González Díez, David; Berbel Artal, Néstor; Mon González, Juan
 

Coordination

 

Supporters