To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/1120

Extraction of an avalanche diode noise model for its application as on-wafer noise source
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Electromagnetic noise
Microwaves
Diodes, Avalanche
on-wafer noise source
excess noise ratio
small-signal model
noise temperature measurement
noise parameters
avalanche diodes
electric noise measurement
electron device noise
semiconductor device models
avalanche diode noise model
unmatched avalanche noise diode
broadband device noise circuit-model
reflection coefficient
noise power
0 to 40 GHz
Soroll electromagnètic
Microones
Díodes
Article
JOHN WILEY & SONS INC
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Lázaro Guillén, Antoni; Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís
 

Coordination

 

Supporters