Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2117/1110

A Method for the Determination of a Distributed FET Noise-Model Based on Matched-Source Noise-Figure Measurements
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís; Lázaro Guillén, Antoni
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions; Universitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
Radio wave propagation
Noise Measurement
Impedance (Electricity) Measurement.
Field-effect transistors
noise-parameters measurement
FET noise parameters
distributed FET noise model
intrinsic noise-correlation matrix
noise modeling
electric impedance
field effect transistors
noise measurement
semiconductor device noise
matched-source noise-figure measurement
source-impedance state
Propagació d'ones
Soroll -- Mesurament
Transistors d'efecte de camp
Impedància (Electricitat)
Article
JOHN WILEY & SONS INC
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Maya Sánchez, Mª del Carmen; Lázaro Guillén, Antoni; Pradell i Cara, Lluís
Lázaro Guillén, Antoni; Maya Sánchez, Mª del Carmen; Pradell i Cara, Lluís