Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/15767
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics |
---|---|
dc.contributor | Universitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control |
dc.contributor.author | Font Teixidó, Josep |
dc.contributor.author | Santos Hernández, Sergio |
dc.contributor.author | Barcons Xixons, Víctor |
dc.contributor.author | Thomson, Neil H. |
dc.contributor.author | Verdaguer, Albert |
dc.contributor.author | Chiesa, Matteo |
dc.date | 2012-01-26 |
dc.identifier.citation | Font, J. [et al.]. Spatial horizons in amplitude and frequency modulation atomic force microscopy. "Nanoscale", 26 Gener 2012, vol. 7, núm. 4, p. 2463-2469. |
dc.identifier.citation | 2040-3364 |
dc.identifier.citation | 10.1039/c2nr12012g |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/15767 |
dc.language.iso | eng |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica |
dc.subject | Atomic force microscopy |
dc.subject | Modulation (Electronics) |
dc.subject | Microscòpia de força atòmica |
dc.subject | Modulació (Electrònica) |
dc.title | Spatial horizons in amplitude and frequency modulation atomic force microscopy |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article |
dc.description.abstract |