To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/15667

Process variability in sub-16nm bulk CMOS technology
Rubio Sola, Jose Antonio; Figueras Pàmies, Joan; Vatajelu, Elena Ioana; Canal Corretger, Ramon
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions; Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Circuits integrats
Integrated circuits.
Circuits integrats
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Report
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Di Carlo, Stefano; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo; Vatajelu, Elena Ioana; Rodríguez Montañés, Rosa; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
 

Coordination

 

Supporters