To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/14591

Simulating and interpreting Kelvin probe force microscopy images on dielectrics with boundary integral equations
Shen, Yongxing; Barnett, David M.; Pinsky, Peter M.
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Matemàtica Aplicada III
Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Anàlisi matemàtica::Equacions funcionals
Integral equations
Equacions integrals
45A05 Equacions integrals lineals
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Article
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Hunsweck, Michael J.; Shen, Yongxing; Lew, Adrian J.
Amiri, Fatemeh; Millán, Daniel; Shen, Yongxing; Rabczuk, Timon; Arroyo Balaguer, Marino
 

Coordination

 

Supporters