To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/14591
Title: | Simulating and interpreting Kelvin probe force microscopy images on dielectrics with boundary integral equations |
---|---|
Author: | Shen, Yongxing; Barnett, David M.; Pinsky, Peter M. |
Other authors: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Matemàtica Aplicada III |
Abstract: | |
Abstract: | |
Subject(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Matemàtiques i estadística::Anàlisi matemàtica::Equacions funcionals -Integral equations -Equacions integrals -45A05 Equacions integrals lineals |
Rights: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Document type: | Article - Published version Article |
Share: |