To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/14490

Manufacturing variability analysis in carbon nanotube technology: a comparison with bulk CMOS in 6T SRAM scenario
García Almudéver, Carmen; Rubio Sola, Jose Antonio
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica
Nanotubes
Nanotubs
Nanotubs de carboni
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Rubio Sola, Jose Antonio; García Almudéver, Carmen; Martin, Javier; Crespo, A.; Rodriguez, Rosa; Nafría Maqueda, Montserrat
Amat Bertran, Esteve; Calomarde Palomino, Antonio; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; García Almudéver, Carmen; Aymerich Capdevila, Nivard; Canal Corretger, Ramon; Rubio Sola, Jose Antonio
Amat Bertran, Esteve; Amatlle, E.; Gómez González, Sergio; Aymerich Capdevila, Nivard; García Almudéver, Carmen; Moll Echeto, Francisco de Borja; Rubio Sola, Jose Antonio
 

Coordination

 

Supporters