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Nanometer-scale oxidation of Si(100) surfaces by tapping mode atomic force microscopy
Pérez Murano, Francesc; Abadal, G.; Barniol i Beumala, Núria; Aymerich Humet, Xavier; Servat, J.; Gorostiza Langa, Pablo Ignacio; Sanz Carrasco, Fausto
Universitat de Barcelona
02-05-2012
Microscòpia de força atòmica
Silici
Nanoelectrònica
Detectors
camps elèctrics
Atomic force microscopy
Silicon
Nanoelectronics
Detectors
Electric fields
(c) American Institute of Physics, 1995
Artículo
American Institute of Physics
         

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