Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/24724

Analysis by optical absorption and transmission electron microscopy of the strain inhomogeneities in InGaAs/InP strained layers
Roura Grabulosa, Pere; Clark, S. A.; Bosch Estrada, José; Peiró Martínez, Francisca; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon
Universitat de Barcelona
02-05-2012
Propietats òptiques
Optical properties
(c) American Institute of Physics, 1995
Article
American Institute of Physics
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Clark, S. A.; Roura Grabulosa, Pere; Bosch Estrada, José; Pérez Rodríguez, Alejandro; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Westwood, David I.; Williams, R. H.
Peiró Martínez, Francisca; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Clark, S. A.; Williams, R. H.
Peiró Martínez, Francisca; Cornet i Calveras, Albert; Herms Berenguer, Atilà; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Clark, S. A.; Williams, R. H.
Roura Grabulosa, Pere; Vilà i Arbonès, Anna Maria; Bosch Estrada, José; López de Miguel, Manuel; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Westwood, David I.