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Reconstruction of the SiO2 structure damaged by low-energy Ar-implanted ions
Garrido Fernández, Blas; Samitier i Martí, Josep; Bota Ferragut, Sebastián Antonio; Moreno, J. A.; Montserrat i Martí, Josep; Morante i Lleonart, Joan Ramon
Universitat de Barcelona
Implantació d'ions
Espectroscòpia
Spectrum analysis
Ion implantation
(c) American Institute of Physics, 1998
Artículo
American Institute of Physics
         

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