To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/24745

Structure of 60° dislocations at the GaAs/Si interface
Vilà i Arbonès, Anna Maria; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Ruterana, Pierre; Loubradou, Marc; Bonnet, Roland
Universitat de Barcelona
2012-05-02
Microscòpia electrònica
Feixos moleculars
Electron microscopy
Molecular beams
(c) American Institute of Physics, 1996
Article
American Institute of Physics
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Vilà i Arbonès, Anna Maria; Peiró, F.; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon
Westwood, David I.; Woolf, D. A.; Vilà i Arbonès, Anna Maria; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon
Cerdà Belmonte, Judith; Cirera Hernández, Albert; Vilà i Arbonès, Anna Maria; Díaz Delgado, Raül; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon
Jimenez, Ismael; Vilà i Arbonès, Anna Maria; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon
Roura Grabulosa, Pere; Vilà i Arbonès, Anna Maria; Bosch Estrada, José; López de Miguel, Manuel; Cornet i Calveras, Albert; Morante i Lleonart, Joan Ramon; Westwood, David I.
 

Coordination

 

Supporters