Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2445/22101

Fabrication and structural characterization of highly ordered sub-100-nm planar magnetic nanodot arrays over 1 cm2 coverage area
Li, Chang-Peng; Roshchin, Igor V.; Batlle Gelabert, Xavier; Viret, Michel; Ott, Frédéric; Schuller, Ivan K.
Universitat de Barcelona
02-03-2012
Alumini
Nanotecnologia
Ferromagnetisme
Propietats magnètiques
Matèria condensada
Microscòpia electrònica d'escombratge
Nanotechnology
Ferromagnetism
Magnetic properties
Condensed matter
Scanning electron microscopy
Aluminium
(c) American Institute of Physics, 2006
Artículo
American Institute of Physics
         

Mostrar el registro completo del ítem

Documentos relacionados

Otros documentos del mismo autor/a

Mejía-López, J.; Altbir, D.; Romero, A. H.; Batlle Gelabert, Xavier; Roshchin, Igor V.; Li, Chang-Peng; Schuller, Ivan K.
Olamit, J.; Arenholz, E.; Li, Zhi-Pan; Petracic, Oleg; Roshchin, Igor V.; Morales, R.; Batlle Gelabert, Xavier; Schuller, Ivan K.; Liu, Kai
Roy, S.; Fitzsimmons, M. R.; Park, S.; Dorn, M.; Petracic, Oleg; Roshchin, Igor V.; Li, Zhi-Pan; Batlle Gelabert, Xavier; Morales, R.; Misra, A.; Zhang, Xixiang; Chesnel K.; Kortright, J. B.; Sinha, S. K.; Schuller, Ivan K.
Li, Zhi-Pan; Petracic, Oleg; Morales, R.; Batlle Gelabert, Xavier; Liu, Kai; Schuller, Ivan K.
Batlle Gelabert, Xavier; Hattink, Bart Jan; Labarta, Amílcar; Åkerman, Johan J.; Escudero, Roberto; Schuller, Ivan K.