Per accedir als documents amb el text complet, si us plau, seguiu el següent enllaç: http://hdl.handle.net/2445/22090

Quantitative x-ray photoelectron spectroscopy study of Al/AlOx bilayers
Batlle Gelabert, Xavier; Hattink, Bart Jan; Labarta, Amílcar; Åkerman, Johan J.; Escudero, Roberto; Schuller, Ivan K.
Universitat de Barcelona
02-03-2012
Espectroscòpia de raigs X
Fotoelectrons
Espectroscòpia d'electrons
Materials magnètics
Photoelectrons
Electron spectroscopy
Magnetic materials
X-ray spectroscopy
(c) American Institute of Physics, 2002
Article
American Institute of Physics
         

Mostra el registre complet del document

Documents relacionats

Altres documents del mateix autor/a

Hattink, Bart Jan; García del Muro y Solans, Montserrat; Konstantinovic, Zorica; Batlle Gelabert, Xavier; Labarta, Amílcar
Hattink, Bart Jan; Labarta, Amílcar; García del Muro y Solans, Montserrat; Batlle Gelabert, Xavier; Sánchez Barrera, Florencio; Varela Fernández, Manuel, 1956-
Hattink, Bart Jan; Labarta, Amílcar; García del Muro y Solans, Montserrat; Batlle Gelabert, Xavier; Sánchez Barrera, Florencio; Varela Fernández, Manuel, 1956-
Hattink, Bart Jan; García del Muro y Solans, Montserrat; Konstantinovic, Zorica; Batlle Gelabert, Xavier; Labarta, Amílcar
Prados, C.; Hattink, Bart Jan; Pina, E.; Batlle Gelabert, Xavier; Labarta, Amílcar; González-Miranda, J. M. (Jesús Manuel); Hernando, Antonio, 1947-