Título:
|
Programa estimador de parámetros spice para transistores bipolares mediante Excel; Spice Parameter Estimator program for
bipolar transistors using Excel
|
Autor/a:
|
Hurtado Carreira, David
|
Otros autores:
|
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; López González, Juan Miguel |
Abstract:
|
Català: Són molts els fabricants que utilitzen programes comercials que integren mòduls d'extracció per estimar els paràmetres que modelen els seus dispositius en simuladors de circuits. L'objectiu del present treball és el desenvolupament d'una aplicació capaç d'estimar els paràmetres SPICE que modelen el transistor bipolar, tot això a partir de mesures experimentals reals proporcionades pel fabricant del dispositiu. A més, s'ofereix un compendi de mètodes i tècniques en forma de manual, on es descriu de manera detallada la teoria, si fa o no fa confidencial, amagada darrere de l'extracció de paràmetres en dispositius semiconductors. |
Abstract:
|
Castellano: Son muchos los fabricantes que utilizan programas comerciales que integran módulos de extracción para estimar los parámetros que modelan sus dispositivos en simuladores de circuitos. El objetivo del presente trabajo es el desarrollo de una aplicación capaz de estimar los parámetros SPICE que modelan el transistor bipolar, todo ello a partir de medidas experimentales reales proporcionadas por el fabricante del dispositivo. Además, se ofrece un compendio de métodos y técnicas en forma de manual, donde se describe de manera detallada la teoría, poco más o menos confidencial, escondida detrás de la extracción de parámetros en dispositivos semiconductores. |
Abstract:
|
English: They are many manufacturers that use commercial programs that integrate extraction modules to estimate the parameters that model their devices in electronic circuit simulators. The objective of the present work is the development of an application able to estimate the parameters SPICE that model the bipolar transistor, everything it starting from experimental real measures provided by the manufacturer of the device. Also, this work offers a summary of methods and technical in manual form, where it is described in a detailed way the theory, not very more or less confidential, hidden behind the extraction of parameters in devices semiconductors. |
Materia(s):
|
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Components electrònics::Transistors -Bipolar transistor -Spice parameter estimator program -Excel -Programa estimador de parámetros spice -Transistors bipolars |
Derechos:
|
Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
Tipo de documento:
|
Trabajo/Proyecto fin de carrera |
Editor:
|
Universitat Politècnica de Catalunya
|
Compartir:
|
|