Utilizad este identificador para citar o enlazar este documento: http://hdl.handle.net/2072/15731

Estudio de cerámicas nanoestructuradas mediante difracción de rayos X y microscopía electrónica de alta resolución
Belarre Triviño, Francisco Javier
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria; Sandiumenge Ortiz, Felip; Rodríguez Viejo, Javier
02-2009
620 - Assaig de materials. Materials comercials. Economia de l'energia
Materials nanoestructurals
Materials ceràmics
Superconductors d'alta temperatura -- Materials
Raigs X -- Difracció
Microscòpia electrònica de transmissió
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús de Creative Commons, amb la qual es permet copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra sempre que se'n citin l'autor original, la universitat i l'escola i no se'n faci cap ús comercial ni obra derivada, tal com queda estipulat en la llicència d'ús (http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/es/)
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
         

Documentos con el texto completo de este documento

Ficheros Tamaño Formato
PFC- Francisco Javier Belarre Triviño.pdf 4.906 MB PDF

Mostrar el registro completo del ítem