Utilizad este identificador para citar o enlazar este documento: http://hdl.handle.net/2072/13837

FIB una eina per a l'enginyeria de materials
Llobet Sixto, Jordi
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
En aquest projecte es presenta la tecnologia FIB com una eina capaç d'oferir solucions de nanocaracterització i nanofabricació dins de l'entorn del BCN-b. En primer lloc es fa una breu descripció dels fenòmens que ocorren durant la utilització de l'equip i sobre les característiques i components que l'integren. S'analitza casos concrets d'inspecció de seccions de mostres de diferents naturalesa (materials multicapa, dispositius electromecànics i òptics, materials biològics), de preparació de mostres TEM, d'edició de circuits electrònics, de nanofabricació sobre diferents materials (conductors i aïllants) i de nanoexperimentació. Aquestes aplicacions són exemples sobre l'ús que ha tingut l'equip durant la realització d'aquest projecte i, sobretot, serveixen de carta de presentació sobre el gran ventall de possibilitats que, amb el CrossBeam 1560 XB, es pot oferir. Finalment, es conclou explicant quina serà la política de funcionament de l'equip i les previsions sobre la seva gestió.
2007
620 - Assaig de materials. Materials comercials. Economia de l'energia
Nanotecnologia
Materials
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús de Creative Commons, amb la qual es permet copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra sempre que se'n citin l'autor original, la universitat i l'escola i no se'n faci cap ús comercial ni obra derivada, tal com queda estipulat en la llicència d'ús (http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/es/)
77 p.
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
         

Documentos con el texto completo de este documento

Ficheros Tamaño Formato Descripción
PFC_JordiLlobetSixto_2007.pdf 8.430 MB PDF Memòria

Mostrar el registro completo del ítem