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Relaxation and derelaxation of pure and hydrogenated amorphous silicon during thermal annealing experiments
Kail, Fatiha; Farjas Silva, Jordi; Roura Grabulosa, Pere; Secouard, Christopher; Nos, Oriol; Bertomeu, Joan Prat; Alzina, F.; Roca i Cabarrocas, Pere
Amorphous semiconductors
Espectroscòpia Raman
Hidrogenació
Semiconductors amorfs
Silici
Hydrogenation
Raman spectroscopy
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Artículo
American Institute of Physics
         

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