To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/105996

Characterization and optimization of the CERN Secondary Emission Monitors (SEM) used for beam diagnostics;
Caracterización y optimización de Monitores de Emisión Secundaria (SEM) en el CERN, utilizados para diagnósticos del haz;
Caracterització i optimització de Monitors d'Emissió Secundària (SEM) al CERN, utilitzats per a diagnòstics del feix
Navarro Fernández, Araceli
Universitat Politècnica de Catalunya. Institut de Tècniques Energètiques; CERN Beam Instrumentation Group; Roncarolo, Federico; Llorca Piqué, Jordi
-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació
-Particle accelerators
-Detectors
-Particle Accelerators
-Aceleradores de Particulas
-Detectores
-Acceleradors de partícules
-Detectors
S'autoritza la difusió de l'obra mitjançant la llicència Creative Commons o similar 'Reconeixement-NoComercial- SenseObraDerivada'
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
Bachelor Thesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters