To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/25636

Title:	Reliability challenges in design of memristive memories
Author:	Pouyan, Peyman; Amat, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Other authors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions
Subject(s):	-Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica -Electronics -Memristors -Memristors -Circuits elèctrics
Rights:
Document type:	Article - Submitted version Conference Object
Share:

Show full item record