RECERCAT Principal
>
Universitat Politècnica de Catalunya
>
Documents de recerca
>
Visualizar documento
Para acceder a los documentos con el texto completo, por favor, siga el siguiente enlace: http://hdl.handle.net/2117/23425
| Título: | Corrections on “Failure Transition Distance-Based Importance Sampling Schemes for the Simulation of Repairable Fault-Tolerant Computer Systems" |
|---|---|
| Autor/a: | Carrasco, Juan A. |
| Otros autores: | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica; Universitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat |
| Abstract: | |
| Materia(s): | -Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica::Sistemes digitals programables -Electric measurements - Instruments -Electrònica--Mesuraments--Aparells i instruments |
| Derechos: | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ |
| Tipo de documento: | Artículo - Versión publicada Artículo |
| Editor: | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Compartir: |
|
Documentos relacionados
Otros documentos del mismo autor/a
Ahmad, Fayyaz; Jang, Taek Soo; Carrasco, Juan A.; Shafiq Ur, Rehman; Ali, Zulfiqar; Ali, Nukhaze
Ahmad, Fayyaz; Tohidi, Emran; Ullah, Malik Zaka; Carrasco, Juan A.
Temsamani, Jamal; Carrasco, Juan A.